Сотрудники НИИ электронной техники (НИИЭТ) ведут канал, на котором ежедневно публикуют самые важные и интересные новости радиоэлектронной отрасли.
На Канале можно узнать о последних разработках и новых продуктах, получить информацию о ключевых участниках
Автоматическая камера для проведения испытаний на воздействие теплового удара интегральных микросхем и полупроводниковых приборов предназначена для проведения испытаний ЭКБ по методу 205-3 ГОСТ РВ 5962 – 004.2 – 2012.
Рабочее место включает в себя следующие общие основные компоненты:
ванна «тепла» выполнена из нержавеющей стали с нагревательным элементом мощностью 2 кВт, обеспечивает режим испытаний от +30⁰С до +200⁰С;
ванна «холода» обеспечивает два режима проведения испытаний:
1) в жидкостной среде (спирт) в диапазоне температур от 0⁰С до минус 60⁰С;
2) в жидкостной среде (жидкий азот) – минус 196⁰С;
рабочие термопары;
устройство автоматического перемещения испытуемых образцов;
корзина;
электронный блок управления (ЭБУ);
система автоматической подачи азота;
вентиляционный короб;
защитный кожух.
Область применения: испытания ЭКБ
Скачать коммерческое предложение