📗📘📙 Подборка научной литературы: Прогнозирование надежности электронных компонентов по параметрам низкочастотного шума 1. Антонова Е. А. Влияние рентгеновского излучения на параметры полупроводниковых изделий : автореферат дис. … кандидата технических наук : 05.27.01 / Антонова Екатерина Александровна; [Место защиты: Воронежский государственный технический университет]. — Воронеж, 2013. — 19 с. http://amp.gs/jnQF4 2. Астафьев Е. А. Программные и аппаратурные способы повышения разрешения при регистрации электрохимических шумов // Электрохимия. 2018. Т. 54. № 12. С. 1055-1069. 3. Башкиров А. В. и др. Прогнозирование деградационных процессов современных ламповых устройств и анализ их эффективных преимуществ перед полупроводниковыми // Вестник Воронежского государственного технического университета. 2019. Т. 15. № 4. С. 89-94. URL: http://amp.gs/jnQFd 4. Бусько В.Н. Лабораторная установка для испытаний образцов на усталость с помощью бигармонического нагружения // Приборы и методы измерений. 2015. Т. 6. № 2. С. 181-187. URL: http://amp.gs/jnQFO 5. Горлов М. И., Жуков Д. М. Влияние внешних дестабилизирующих факторов на величину низкочастотного шума интегральных схем // Программные продукты и системы. 2016. № 3 (115). С. 187-191. URL: http://amp.gs/jnQFS Нужны еще источники? Вам поможет Библоид: http://amp.gs/jnQFA